VEGA物位計產(chǎn)品分類
德國VEGA物位計說明:德國VEGA物位計，VEGA料位計，VEGA液位計
德國威格VEGA物位計 威格VEGA料位計 威格VEGA傳感器 威格VEGA液位計 威格VEGA雷達液位計 
威格VEGA雷達物位計 威格VEGA物位開關 威格VEGA料位開關 威格VEGA超聲波傳感器 威格VEGA超聲波物位計 
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雷達式物位測量儀表 
VEGA物位雷達式PULS61/62/63/65/66系列
液體或固體介質(zhì)，特別適用于高溫、高壓、真空、粉塵、
蒸汽及測量腐蝕性*或混合度高的介質(zhì)。
 

超聲波式物位測量儀表 
VEGA超聲波物位測量SON61/62/63系列
用于測量不同密度及表面特性的液體和固體介質(zhì)，測量開
口明渠的流量和距離。

導向微波式物位測量儀表 
VEGA導向微波式物位測量FLEX61/62/63系列
對所有介質(zhì)進預*要*預先進要先進行位式檢測，這些介質(zhì)必須能減弱或反射微
波。用來監(jiān)控傳送設備運轉(zhuǎn)狀況。

振動式物位測量儀表 
VEGA振動式固料式測量VIB61/63 
VEGA振動式位式測量SWING51/61/63
用于對液體和固體進預*要*預先進要先進行位式檢測。測量結(jié)果不受被測介質(zhì)
特性的影響，也不受容器內(nèi)工況條件的影響。

電容式物位測量儀表
VEGA電容物位測量CAL62/63/64/65/66/67 
適用于各種介質(zhì)包括腐蝕性介質(zhì)及高溫、高壓的測量環(huán)境
VEGA靜壓式物位及壓力測量WEL

VEGA物位產(chǎn)品
雷達式物位測量儀表 
VEGA物位雷達式PULS61/62/63/65/66系列
液體或固體介質(zhì)，特別適用于高溫、高壓、真空、粉塵、
蒸汽及測量腐蝕性*或混合度高的介質(zhì)

VEGAPULS 61
配有塑封天線系統(tǒng)的雷達傳感器，用于連續(xù)物位測量(K-頻段)
特別適用于測量腐蝕性液體，或用于開口容器或渠道。

VEGA優(yōu)勢 
- 探頭材料: PVDF 或 PP
- 可以測量至距離天線下緣50mm的地方 
- 測量精度 ±5 mm
- ECHOFOX-信號分析處理，采用*模糊邏輯
- 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調(diào)試
- 屬于plics產(chǎn)品系列 
測量范圍 達 20 米 
過程連接 G1 1/2A螺紋, 龍門框或法蘭 
過程溫度 -40 ... 80°C 
過程壓力 -1 … +3 bar (-100 … +300 kPa) 
測量精度 ±5 mm 
發(fā)射頻率 K-頻段
 
VEGAPULS 62
配有喇叭口天線、拋物線天線或?"- 導波管天線的雷達傳感器，用于連續(xù)物位測量(K-頻段)
適用于存儲容器或過程容器，可以在惡劣條件下測量幾乎所有介質(zhì)。

VEGA優(yōu)勢 
- 非接觸 式測量，不受過程溫度、過程壓力和過程氣體的限制
- 可以測量至距離天線下緣50mm的地方 
- 測量精度 ±3 mm
- ECHOFOX-信號分析處理，采用*模糊邏輯
- 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調(diào)試
- 屬于plics產(chǎn)品系列 
測量范圍 達 35 米 
過程連接 螺紋或法蘭 
過程溫度 -40 ... 200°C 
過程壓力 -1 … +40 bar (-100 … +4000 kPa) 
測量精度 ±3 mm 
發(fā)射頻率 K-頻段 

液體或固體介質(zhì)，特別適用于高溫、高壓、真空、粉塵、蒸汽及測量腐蝕性*或混合度高的介質(zhì)。
VEGAPULS 61
配有塑封天線系統(tǒng)的雷達傳感器，用于連續(xù)物位測量(K-頻段)
特別適用于測量腐蝕性液體，或用于開口容器或渠道。
優(yōu)勢 
- 探頭材料: PVDF 或 PP
- 可以測量至距離天線下緣50mm的地方 
- 測量精度 ±5 mm
- ECHOFOX-信號分析處理，采用*模糊邏輯
- 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調(diào)試
- 屬于plics產(chǎn)品系列 
測量范圍 達 20 米  
過程連接 G1 1/2A螺紋, 龍門框或法蘭 
過程溫度 -40 ... 80°C 
過程壓力 -1 … +3 bar (-100 … +300 kPa)  
測量精度 ±5 mm  
發(fā)射頻率 K-頻段

VEGAPULS 62
配有喇叭口天線、拋物線天線或?"- 導波管天線的雷達傳感器，用于連續(xù)物位測量(K-頻段)
適用于存儲容器或過程容器，可以在惡劣條件下測量幾乎所有介質(zhì)。
優(yōu)勢 
- 非接觸是測量，不受過程溫度、過程壓力和過程氣體的限制
- 可以測量至距離天線下緣50mm的地方 
- 測量精度 ±3 mm
- ECHOFOX-信號分析處理，采用*模糊邏輯
- 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調(diào)試
- 屬于plics產(chǎn)品系列 
測量范圍 達 35 米  
過程連接 螺紋或法蘭 
過程溫度 -40 ... 200°C 
過程壓力 -1 … +40 bar (-100 … +4000 kPa)  
測量精度 ±3 mm  
發(fā)射頻率 K-頻段

VEGAPULS 63
配有塑封天線系統(tǒng)的雷達傳感器，用于連續(xù)物位測量 (K-頻段)
特別適用于測量腐蝕性強的介質(zhì)，或用于衛(wèi)生無菌要求高的環(huán)境。
優(yōu)勢 
- 用于探測的材料只有一種
- 可以測量至距離天線下緣50mm的地方 
- 測量精度 ±3 mm
- ECHOFOX-信號分析處理，采用*模糊邏輯
- 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調(diào)試
- 屬于plics產(chǎn)品系列 
測量范圍 達 20 米  
過程連接 法蘭或衛(wèi)生連接 
過程溫度 -200…150°C 
過程壓力 -1 … +16 bar (-100 … +1600 kPa)  
測量精度 ±3 mm  
發(fā)射頻率 K-頻段

VEGAPULS 65
配有棒式天線系統(tǒng)的雷達傳感器，用于連續(xù)物位測量 (C-頻段)
特別適用于小的過程連接，在較為簡單的過程條件下測量腐蝕性液體。
優(yōu)勢 
- 探頭材料: PVDF 或 PTFE
- 可以測量至距離天線下緣100mm的地方
- 測量精度 ±10 mm
- ECHOFOX-信號分析處理，采用*模糊邏輯
- 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調(diào)試
- 屬于plics產(chǎn)品系列 
測量范圍 達 35 米  
過程連接 G1 1/2A螺紋或法蘭 
過程溫度 -40 ... 150°C 
過程壓力 -1 … +16 bar (-100 … +1600 kPa)  
測量精度 ±10 mm  
發(fā)射頻率 C-頻段

VEGAPULS 66
配有喇叭口天線或2”導波管天線的雷達傳感器，用于連續(xù)物位測量(C-頻段)
特別適用于在復雜的過程條件下進預*要*預先進要先進行測量。
優(yōu)勢 
- 非接觸是測量，不受過程溫度、過程壓力和過程氣體的限制
- 可以測量至距離天線下緣100mm的地方
- 測量精度 ±10 mm
- ECHOFOX-信號分析處理，采用*模糊邏輯
- 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調(diào)試
- 屬于plics產(chǎn)品系列 
測量范圍 達 35 米  
過程連接 法蘭 
過程溫度 -40 ... 400°C 
過程壓力 -1 … +160 bar (-100 … +16000 kPa)  
測量精度 ±10 mm  
發(fā)射頻率 C-頻段

VEGAPULS 67
配有塑封天線系統(tǒng)的雷達傳感器，用于連續(xù)固料料位測量(K-頻段)
特別適用于測量固體料位，料倉高度可達15米。
優(yōu)勢 
- 非接觸式測量，不受粉塵和風送首*首先進入料的限制
- 測量精度 ±15 mm
- ECHOFOX-信號分析處理，采用*模糊邏輯
- 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調(diào)試
- 屬于plics產(chǎn)品系列 
測量范圍 達 15 米  
過程連接 龍門框或鎖緊法蘭 
過程溫度 -40 ... 80°C 
過程壓力 -1 … +2 bar (-100 … +200 kPa)  
測量精度 ±15 mm  
發(fā)射頻率 K-頻段

VEGAPULS 68
配有喇叭口天線或拋物線天線的雷達傳感器，用于連續(xù)測量固體料位 (K-頻段)
特別適合測量固體料位，通過萬向節(jié)可以調(diào)整天線方向，以適用于不用形狀的料倉，并對準料面。
優(yōu)勢 
- 非接觸式測量，不受粉塵和風送首*首先進入料的限制
- 測量精度 ±15 mm
- ECHOFOX-信號分析處理，采用*模糊邏輯
- 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調(diào)試
- 屬于plics產(chǎn)品系列 
測量范圍 達70 米  
過程連接 G1 1/2A螺紋或法蘭 
過程溫度 -40 ... 200°C 
過程壓力 -1 … +40 bar (-100 … +4000 kPa)  
測量精度 ±15 mm  
發(fā)射頻率 K-頻段

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